2020 官网升级中!现在您访问官网的浏览器设备分辨率宽度低于1280px请使用高分辨率宽度访问。
晶圆检测AVI,针对半导体晶圆在制成中的多种瑕疵缺陷进行检测,通过多站光学成像设置,分别检测相应的尺寸及缺陷问题,保证缺陷全覆盖;产品精密微小,通过高精度相机结合多种检测算法,保证良好的检测效果,且实现较好的稳定性应用。 提升UPH
异物、挂上毛刺、破损、毛丝、污染颗粒、翘起以及相应的尺寸测量
了解更多AVI